一、介電常數(shù)概念

電介質(zhì)的極化示意圖

    如果將一塊電介質(zhì)放入一平行電場(chǎng)中，則可發(fā)現(xiàn)在介質(zhì)表面感應(yīng)出了電荷，即正極板附件的電介質(zhì)感應(yīng)出了負(fù)電荷，負(fù)極板附近的介質(zhì)表面感應(yīng)出正電荷。這種電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下產(chǎn)生感應(yīng)電荷的現(xiàn)象，稱之為電介質(zhì)的極化。這類在電場(chǎng)作用下，產(chǎn)生極化作用的材料稱為電介質(zhì)。

Q’——由電介質(zhì)極化引起的束縛電荷

平板真空電容器電容量：

插入固體電解質(zhì)后電容量：

相對(duì)介電常數(shù)： 

    介質(zhì)在外加電場(chǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場(chǎng)，介質(zhì)中的電場(chǎng)減小與原外加電場(chǎng)（真空中）的比值即為相對(duì)介電常數(shù)（真空的相對(duì)介電常數(shù)為1）。為簡單起見，相對(duì)介電常數(shù)也稱介電常數(shù)。

    介電常數(shù)的物理意義可以理解為用于表征電介質(zhì)在極化過程中儲(chǔ)存電荷能力。表示在單位電場(chǎng)中，單位體積內(nèi)積蓄靜電能的大小。高分子材料的介電常數(shù)主要由主鏈結(jié)構(gòu)中的鍵性能和排列所決定。

    介電損耗是指置于交變電場(chǎng)中的電介質(zhì)，以內(nèi)部發(fā)熱（溫度升高）表現(xiàn)出的能量損耗的現(xiàn)象。原因是由于電介質(zhì)中含有能導(dǎo)電的載流子，在外加電場(chǎng)作用下，產(chǎn)生導(dǎo)電電流，消耗掉一部分電能，轉(zhuǎn)為熱能。作絕緣材料或電容器材料的高聚物，介電損耗越小越好。損耗角正切表示為獲得給定的存儲(chǔ)電荷要消耗的能量的大小，是電介質(zhì)作為絕緣材料使用時(shí)的重要評(píng)價(jià)參數(shù)。為了減少介質(zhì)損耗，希望材料具有較小的介電常數(shù)和更小的損耗角正切。

二、介電常數(shù)的測(cè)試方法

   傲川科技有限公司對(duì)介電常數(shù)的測(cè)試是按照美標(biāo)ASTM D150實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法進(jìn)行。使用的測(cè)試儀器為WY2851 Q表。

三、介電常數(shù)的影響因素

   影響介電常數(shù)的主要因素有：測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、溫度、濕度等。其中，不同頻率測(cè)出的介電常數(shù)往往會(huì)差別明顯。我們?cè)谕ㄟ^對(duì)墊片在幾個(gè)頻率下測(cè)量介電常數(shù)和損耗指數(shù)后發(fā)現(xiàn)，墊片在高頻率下介電常數(shù)的測(cè)試結(jié)果更為穩(wěn)定，重復(fù)性更好。因此傲川科技有限公司測(cè)試介電常數(shù)的頻率設(shè)定為10Mhz。

四、介電常數(shù)對(duì)導(dǎo)熱墊片的性能影響

  絕緣材料通常以兩種不同方式來使用，即：

（1）用于固定電學(xué)網(wǎng)絡(luò)部件，同時(shí)讓其彼此以及與地面絕緣，此時(shí)要求介電常數(shù)的值較低；

（2）用于起到某一電容器的電介質(zhì)作用此時(shí)要求介電常數(shù)的值較高。

   導(dǎo)熱墊片通常在絕緣材料中通過上述的第一種方式來應(yīng)用，通常要求固定的電容盡可能小，同時(shí)具有可接受且一致的機(jī)械，化學(xué)和耐熱性能。因此要求介電常數(shù)具有一個(gè)低值。

總結(jié)：

   介電常數(shù)表示電介質(zhì)儲(chǔ)蓄電荷的能力，測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)方法是ASTM D150，主要的影響因素是測(cè)試頻率。對(duì)于有絕緣要求的場(chǎng)合來說，要求導(dǎo)熱墊片的介電常數(shù)具有一個(gè)低值。